DWDM并行掃描一拖四測試系統
產品功能介紹
1. 支持不同類型的DWDM/AWG模塊（器件）以及100G Lan WDM器件的掃描和PDL測試，參數設置靈活，界面可視化、操作非常簡便。
2. 支持多工位對可調光源進行實時并行共享掃描測試，工位之間互不干擾，無需排隊等待。
3. 自動計算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、CWL（0.5dB，1dB，3dB等）、中心波長與ITU波長的偏移量，Bandwidth、Isolation、Crosstalk等參數。
4. 自動分析計算各種所需的測試參數結果，自動判定測試結果；所有數量海量保存，自動生成出貨報表。
測試界面示意圖
系統性能指標
參數 | 指標 | 單位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長 | 1260 | 1620 | nm | |
測試指標 | ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation | |||
插損（IL）不確定度 | ±0.05（光纖熔接測試） | dB | ||
±0.1（連接頭測試） | ||||
測量模式 | TLS掃描/單功率計點測 | |||
單通道掃描時間 | 6-10 | S | ||
單點PDL純測時間 | 3-5 | S | ||
方案配置
序號 | 名稱、規格及描述 | 備注 |
1 | 可調光源，支持各種品牌的可調光源（帶掃描功能） | |
2 | 高速功率計 | |
3 | 光開關：1X2,1X4機械式測試級光開關 | 重復性≤0.01dB |
4 | 偏振控制器：GM8015-C, GT303-5 | |
5 | 測試系統光路主機 | 定制 |
測試工控電腦 | ||
GPIB card，GPIB cable： PCI-GPIB, GPIB-US-HS |
