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CWDM一拖四掃描測試系統

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產品功能介紹

1. 充分利用寬帶光源和光譜分析儀的低利用率實現寬帶光源和光譜儀的共享,可以供四個測試工位分時復用執行測試。

2. 兼容CWDM器件和模塊掃描測試。支持高低溫測試,升降溫的自動延時控制。

3. 自動掃描并計算ITU IL、Min IL、Max IL、Ripple、TDL,Isolation以及不同dB值條件下的CWL、Bandwidth等各種參數。

4. 兼容復雜的CWDM模塊掃描測試和計算,如混合了EXP、UPG、Coupler器件和Monitor通道的WDM模塊,或者是MUX/DEMUX,TX/RX等多個模塊組合的特殊模組。

5. 自動判定測試結果;所有數據通過SQL Server數據庫海量保存,自動批量生成出貨報表。

測試界面示意圖

image.png

系統性能指標 

 

參數 

指標

單位Unit

最小值

典型值 

最大值 

工作波長 

1260


1620

nm

測試指標

IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW//TDL,etc.


插損(IL)不確定度 

±0.05(光纖熔接測試)

dB

±0.1(連接頭測試)

測量模式

OSW掃描


單通道掃描時間

6-8(AQ6370,1250~1650nm,步距/Step0.1nm)

S

可測產品類型

CWDM器件、CWDM模塊、FWDM CWDM                        Device、CWDM Module、FWDM


 

 

 

方案配置:

序號

名稱、規格及描述

備注

1

寬帶光源 

1250~1650nm

2

光譜分析儀AQ6370, Agilent86142B 


3

光開關:1X2,1X4, 1X18機械式測試級光開關

重復性≤0.01dB

4

測試工控電腦 


5

GPIB GPIB-USB-HS



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